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Apollowave MBP-55臺(tái)式緊湊型手動(dòng)探針臺(tái)

Apollowave MBP-55臺(tái)式緊湊型手動(dòng)探針臺(tái)

更新日期:2026-07-07

訪問量:16

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址:日本

簡要描述:
日本 Apollowave MBP-55臺(tái)式緊湊型手動(dòng)探針臺(tái),針對(duì)高校教學(xué)、小型研發(fā)團(tuán)隊(duì)小片裸芯片測試開發(fā)超小型桌面探針設(shè)備;整機(jī)一體化緊湊結(jié)構(gòu),占地面積遠(yuǎn)小于6寸/8寸標(biāo)準(zhǔn)探針臺(tái),適配常規(guī)小型實(shí)驗(yàn)室操作臺(tái);三軸配備微米級(jí)精密微分手輪,搭配同軸落射光學(xué)顯微觀測系統(tǒng)

一、日本 Apollowave MBP-55臺(tái)式緊湊型手動(dòng)探針臺(tái) 產(chǎn)品基礎(chǔ)信息

項(xiàng)目詳情
品牌型號(hào)Apollowave MBP-55 臺(tái)式緊湊型手動(dòng)探針臺(tái)
承載規(guī)格最大適配55mm以內(nèi)方形、圓形裸芯片、封裝器件、陶瓷基板
平臺(tái)結(jié)構(gòu)一體化緊湊型鑄鐵底座,X/Y/Z三軸微米微分手動(dòng)微調(diào)平臺(tái),無電動(dòng)驅(qū)動(dòng)
視覺系統(tǒng)同軸落射光學(xué)顯微鏡,可選配CCD工業(yè)相機(jī)+顯示屏顯微成像
核心應(yīng)用高校教學(xué)、初創(chuàng)研發(fā)小片裸芯片、分立器件、Mini基板直流/射頻手動(dòng)探針測試

二、核心規(guī)格參數(shù)

參數(shù)項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格
位移控制三軸微分手輪微米級(jí)細(xì)分刻度,人工精細(xì)控制樣品與探針相對(duì)位置
載片結(jié)構(gòu)微型真空吸附陶瓷載片臺(tái),專為≤55mm小片夾持設(shè)計(jì)
操作模式全手動(dòng)操作,無自動(dòng)步進(jìn)程序,單點(diǎn)、少量樣品反復(fù)調(diào)試適配
探針兼容多通道直流探針、GSG射頻微波探針通用適配
信號(hào)輸出側(cè)邊標(biāo)準(zhǔn)射頻同軸端口、直流偏置端子,對(duì)接各類半導(dǎo)體射頻測試儀表
拓展配置簡易高低溫溫控卡盤、CCD成像顯示套件、探針清潔組件可選加裝
機(jī)身特點(diǎn)超緊湊臺(tái)式一體化機(jī)身,占用操作臺(tái)面積小,空間緊張實(shí)驗(yàn)室適配
適用工況高校間歇教學(xué)實(shí)驗(yàn)、少量裸片研發(fā)摸索、芯片單點(diǎn)失效精細(xì)分析

三、產(chǎn)品核心性能優(yōu)勢(shì)

1. 超緊湊小型一體化機(jī)身,窄桌面即可擺放

整機(jī)體積大幅縮減,無需專用大型設(shè)備臺(tái),普通實(shí)驗(yàn)室小型操作臺(tái)、桌面工作臺(tái)均可直接放置,適配儀器密集擺放、空間有限的高校教室與小型研發(fā)工位。

2. 專為55mm以內(nèi)小片定制,匹配裸片、分立器件、Mini基板

放棄大尺寸晶圓冗余行程,載片臺(tái)、三軸行程針對(duì)小片樣品優(yōu)化,操作輕便靈活,不適合6/8寸晶圓,專注教學(xué)、小樣研發(fā)場景,設(shè)備采購?fù)度敫汀?/p>

3. 微米級(jí)微分三軸平臺(tái),微小器件電極精細(xì)對(duì)位可控

三軸配備高精度微分手輪,位移細(xì)分至微米級(jí),針對(duì)毫米級(jí)光電探測器、微型濾波裸片、故障拆解芯片可緩慢微調(diào)扎針點(diǎn)位,便于多組對(duì)比實(shí)驗(yàn)與失效點(diǎn)位定位分析。

4. 同軸光學(xué)顯微觀測,微小焊盤可視化精準(zhǔn)控制扎針壓力

采用同軸落射照明光學(xué)鏡筒,可選外接CCD投屏顯示器,微小器件電極清晰放大顯示,人工直觀觀察探針接觸狀態(tài),有效減少探針劃傷電極、接觸電阻異常導(dǎo)致的測試失效。

5. 微型真空吸附載片臺(tái),可拓展簡易冷熱測試模塊

標(biāo)準(zhǔn)微型真空牢牢吸附小片樣品,手動(dòng)微調(diào)過程不會(huì)滑動(dòng)偏移;可加裝小型簡易高低溫卡盤,完成常溫至中溫區(qū)間器件溫變電學(xué)性能驗(yàn)證,拓展可靠性實(shí)驗(yàn)?zāi)芰Α?/p>

6. 射頻、直流雙信號(hào)接口兼容,單臺(tái)覆蓋多類小樣研發(fā)需求

機(jī)身集成標(biāo)準(zhǔn)化射頻同軸接口與直流偏置端子,搭配微波探針測試小型LTCC濾波器S參數(shù)、插損;更換直流探針測試MOS、二極管IV曲線、擊穿電壓,一套設(shè)備同時(shí)支撐射頻與功率分立器件教學(xué)研發(fā)。

7. 純手動(dòng)無電動(dòng)部件,采購與長期維護(hù)成本更低

整機(jī)無電機(jī)、驅(qū)動(dòng)器、工控自動(dòng)化系統(tǒng),硬件結(jié)構(gòu)簡單,初始采購成本遠(yuǎn)低于半自動(dòng)、標(biāo)準(zhǔn)手動(dòng)6寸探針臺(tái);無電動(dòng)易損件故障,日常僅需定期潤滑導(dǎo)軌,維護(hù)工作量與耗材成本大幅降低。

四、日本 Apollowave MBP-55臺(tái)式緊湊型手動(dòng)探針臺(tái) 適用行業(yè)與應(yīng)用場景

  • 高校微電子、光電通信實(shí)驗(yàn)室:半導(dǎo)體器件基礎(chǔ)教學(xué)實(shí)驗(yàn)、流片小片樣品性能演示

  • 初創(chuàng)射頻光電研發(fā)團(tuán)隊(duì):小型LTCC濾波器、微型光電探測器裸片射頻/直流特性摸索

  • 半導(dǎo)體失效分析工位:拆解后小型故障芯片單點(diǎn)精細(xì)探針定位故障根源

  • 分立器件研發(fā)實(shí)驗(yàn)室:二極管、三極管、MOS管裸片IV曲線、耐壓特性摸底實(shí)驗(yàn)

  • 小型封裝元器件廠:TO封裝器件、Mini陶瓷基板來料簡易電學(xué)性能抽檢


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