日本 TEKHNE MBW373 冷鏡式露點儀
更新日期：2026-05-29
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廠商性質：經銷商
生產地址：日本
簡要描述：
日本 TEKHNE MBW373 冷鏡式露點儀，作為計量級標準器，廣泛用于實驗室校準、半導體工藝、燃料電池研發(fā)等場景。采用鏡面冷卻原理，測量精度達 ±0.1℃，可覆蓋 - 95℃~+140℃寬量程，支持露點 / 霜點雙模式測量，為氣體濕度管控提供可靠支撐。
一、日本 TEKHNE MBW373 冷鏡式露點儀產品概述
MBW373 是日本 TEKHNE 推出的冷鏡式露點儀，是高精度濕度測量設備，常被作為國家標準器用于濕度計校準。它采用經典的鏡面冷卻原理，直接測量氣體的露點 / 霜點溫度，為各類場景提供溯源性強、穩(wěn)定性高的濕度數(shù)據(jù)。
二、核心技術與性能特點
高精度冷鏡式測量
設備通過光學傳感器監(jiān)測鏡面結露狀態(tài)，配合閉環(huán)溫控系統(tǒng)，實現(xiàn) ±0.1℃的露點測量精度，重復性可達 ±0.05℃，滿足計量級校準需求。
寬量程覆蓋
支持 - 95℃~+140℃的露點測量范圍，適配半導體超干氣體、工業(yè)高溫蒸汽、燃料電池氫氣等多種復雜工況。
抗污染與易維護設計
鏡面模塊可拆卸清洗，光學系統(tǒng)采用防污染涂層，可減少粉塵、油污對測量精度的影響，延長設備使用壽命。
靈活的信號輸出
配備模擬 / 數(shù)字雙輸出接口，可對接數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，支持長期數(shù)據(jù)記錄與分析。
三、技術參數(shù)參考
表格
| 參數(shù)項 | 規(guī)格值 |
|---|---|
| 測量對象 | 露點 / 霜點 |
| 測量范圍 | -95℃ ~ +140℃ |
| 測量精度 | ±0.1℃ |
| 重復性 | ±0.05℃ |
| 工作溫度 | 5℃ ~ 45℃ |
| 樣氣壓力 | ≤0.2MPa |
四、日本 TEKHNE MBW373 冷鏡式露點儀 典型應用場景
計量實驗室：作為標準器，校準工業(yè)露點儀、手持濕度計；
半導體行業(yè)：監(jiān)測工藝氣體露點，保障晶圓制造環(huán)境；
燃料電池研發(fā)：評估氫氣 / 空氣濕度特性，優(yōu)化電堆性能；
工業(yè)過程：化工、鋼鐵行業(yè)的氣體濕度管控，穩(wěn)定工藝條件。
五、使用與維護說明
樣氣需經過過濾處理，避免顆粒物、液態(tài)水進入設備；
鏡面模塊需定期拆卸清洗，防止污染影響測量精度；
設備需定期送計量機構校準，確保數(shù)據(jù)溯源性；
避免在強電磁干擾環(huán)境中使用，防止影響信號穩(wěn)定性。
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